Основы сканирующей зондовой микроскопии
Миронов В. Л.
От издательства:Книга представляет собой учебное пособие для студентов старших курсов высших учебных заведений, посвящённое одному из самых современных методов исследования поверхности твёрдого тела ― сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ). В книге рассматриваются основные виды СЗМ, нашедшие наиболее широкое применение в научных исследованиях: сканирующая туннельная микроскопия (СТМ), атомно-силовая микроскопия (АСМ), электросиловая микроскопия (ЭСМ), магнитно-силовая микроскопия (МСМ), ближнепольная оптическая микроскопия (БОМ).
Tahun:
2004
Penerbit:
РАН, Институт физики микроструктур
Bahasa:
russian
Halaman:
114
File:
PDF, 3.45 MB
IPFS:
,
russian, 2004
Litres
Ingin menambahkan toko buku? Hubungi kami melalui support@z-lib.fm
Konversi file
Lebih banyak hasil pencarian
Manfaat yang lain 
